Всесторонней камера испытательной системы флэш-памяти повсюду ускоренная ход температурой старея

техническая характеристика изделия

Испытательная система HD-512-NAND обломока флэш-памяти умная всесторонняя испытательная система флэш-памяти которая может подгонять план теста и поддержать параллельное испытание различных типов частиц флэш-памяти. 64 типа, максимальное число испытания частиц флэш-памяти параллельно могут достигнуть 512.

Испытательная система YC-512-NAND обломока флэш-памяти умная поддерживает множественные телевизионные испытательные таблицы и изготовленные на заказ функции параметра теста, и может предусмотреть процесс теста одн-щелчка основной и высокопоставленный процесс теста с высокой гибкостью, не только может осуществить что оставшая жизнь частиц флэш-памяти, натурное измерение, удерживание данных и прочитать взаимодействие и другие функциональные тесты может также помочь потребителям проверить состояние надежности частиц флэш-памяти. После того как тест завершен, отчет по испытанию можно легко и быстро экспортировать с одним ключом, обеспечивая клиентов с самыми интуитивными и самыми точными графическими проверками данных. Обеспечьте самую интуитивную ссылку данных для классификации ранга и применения частиц флэш-памяти, и осуществите умную классификацию основанную на качественных результатах осмотра частиц флэш-памяти.

※ Основа теста исполняет со стойкой No.218 JEDEC: Полупроводниковые требования к привода ассоциации B-2016 технологии полупроводниковые (SSD) и длительное испытание Motho;

※ Основа теста исполняет с JEDEC стандартным No.47 NVCE: Квалификация полупроводниковой ассоциации технологии управляемая Стресс Тест интегральных схема;

※ Конструктивные требования доски для испытаний соотвествует окружающей среды температуры теста промышленн-степени;